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国产升级,高端打造丨优可测薄膜厚度测量仪新品上市

发布时间:2023-05-09 17:00:45     浏览次数:666

优可测隆重推出薄膜厚度测量仪AF-3000系列新品,助力国产制造和科研升级。

小优博士带大家来一睹新品风采!

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【测量原理】

不同波长的光波穿透被测膜层

上下表面反射光相互之间的相位差增强或减弱

通过解析干涉图形计算被测膜层厚度

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【应用场景】

广泛应用在半导体、精密光学、液晶、新能源/光伏、医疗、刀具、制成薄膜、高分子材料等行业。例如ITO膜、钙钛矿 、量子点、SiO2、光刻胶等。

优可测AF-3000系列提供高精度、高速度、多场景层厚度测量方案。

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四大亮点  远超传统膜厚仪




01

超高精度 分辨率1Å

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用独特的“分波段拟合算法”

偏差精准校正,实现超高分辨率





02

多层测量

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最高可测10





03

适用多场景

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04

毫秒级别采样频率

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比传统膜厚仪提升2-3

更合适在线使用

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优可测提供全国范围内的免费测试服务!

需了解AF-3000产品详细参数和细节

欢迎访问优可测官网www.atometrics.com.cn

或拨打400 080 3885服务电话,由专业工程师对接。



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